桜井, 健次
Sakurai, Kenji (Researcher in spectroscope)
사쿠라이 겐지
VIAF ID: 255580172 ( Personal )
Permalink: http://viaf.org/viaf/255580172
Preferred Forms
- 100 1 _ ‡a Sakurai, Kenji ‡c (Researcher in spectroscope)
- 100 1 _ ‡a 桜井, 健次
- 100 1 _ ‡a 桜井, 健次
- 100 1 _ ‡a 사쿠라이 겐지
4xx's: Alternate Name Forms (11)
Works
Title | Sources |
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Ekkususen hansharitsuho nyumon. | |
Introduction to reference-free x-ray fluorescence analysis | |
PF· KENS Gōdō Kenkyūkai "Nanosaiensu Tekunorojī to Hōshakō Chūseishi Hansharitsuhō" | |
Rifarensufuri keiko ekkususen bunseki nyumon. | |
X-sen chūseishi hansharitsuhō ni yoru hakumaku tasōmaku no kōzō kaiseki | |
X-선 반사율법 입문 | |
X線反射率法入門 | |
ナノサイエンス・テクノロジーと放射光/中性子反射率法 : PF・KENS合同研究会 | |
リファレンスフリー蛍光X線分析入門 | |
平成 13年度研究会 「X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析」 : X-ray and neutron reflectivity studies on thin films and multilayers : KEK, Tsukuba, Japan, December 21-22, 2001 | |
薄膜・多層膜の埋もれた界面の解析 : 高度な量子ビーム源による新しい研究の方向性 = Buried interface science with advanced synchrotrons and neutrons |