重川, 秀実, 1955-
Shigekawa, H. (Hidemi)
Shigekawa, H.
Shigekawa, Hidemi
重川, 秀実
VIAF ID: 258524928 (Personal)
Permalink: http://viaf.org/viaf/258524928
Preferred Forms
- 100 1 _ ‡a Shigekawa, H.
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- 100 1 _ ‡a Shigekawa, H. ‡q (Hidemi)
- 100 1 _ ‡a Shigekawa, Hidemi
- 100 1 _ ‡a 重川, 秀実
- 100 1 _ ‡a 重川, 秀実, ‡d 1955-
4xx's: Alternate Name Forms (7)
Works
Title | Sources |
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Ikanishite jikken o okonauka : Gosa no atsukai kara ronbun sakusei made | |
Kyokugen jikken gijutsu | |
Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy : route to femtosecond angstrom technology | |
Nano keisoku : denshisen, hikari, purōbu gijutsu o mochiita nano baio zairyō no tansaku to hyōka = Nano measurement | |
Practical physics. | |
Sōsa purōbu kenbikyō = Scanning probe microscopy : Tadashii jikken to dēta kaiseki no tameni hitsuyōna koto | |
Sōsa purōbu kenbikyō to kyokusho bunkō : Jissen nanotekunorojī | |
Transport électronique dans les systèmes quantiques confinés. | |
いかにして実験をおこなうか : 誤差の扱いから論文作成まで | |
ナノ構造・超高速現象の解析制御と次世代新機能素子開発への展開 | |
ナノ計測 : 電子線・光・プローブ技術を用いたナノ・バイオ材料の探索と評価 = Nano measurement | |
誘起表面における隠れた分子反応素過程の解析・制御と新物質相創製の試み | |
極限実験技術 | |
走査プローブ顕微鏡 : 正しい実験とデータ解析のために必要なこと | |
走査プローブ顕微鏡と局所分光 : 実戦ナノテクノロジー |