櫻井, 利夫
VIAF ID: 112206188 (Personal)
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- 100 1 _ ‡a 櫻井, 利夫
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Works
Title | Sources |
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Advances in scanning probe microscopy | |
GaNの結晶成長の原子レベル研究とデバイス応用 | |
GaN系半導体ヘテロ構造における表面界面の原子レベル評価と物性制御 | |
INS-ABDの開発とその半導体表面への応用 | |
X線誘起トンネル電流による走査トンネル顕微鏡での元素分析(元素分析STMの開発) | |
イオンミリングによるアトム・プローブFIM用非金属試料針の作製法の開発 | |
二元合金における表面偏析の微視的研究 | |
界面電子トンネリングの基礎と応用 ー低温超高真空BEEMの開発ー | |
電界イオン-磁気力顕微鏡(FI-MFM)の開発とその表面磁性への応用 | |
表面歪み場を新しいパラメータとしたナノ構造作製とその機械・電子物性の制御 |