Renovell, Michel, 1956-....
![Sudoc [ABES], France](/viaf/images/flags/SUDOC.png "Sudoc [ABES], France")
Renovell, M. (Michel)
Renovell, M.
Renovell, Michel
VIAF ID: 9908215 (Personal)
Permalink: http://viaf.org/viaf/9908215
Preferred Forms
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Renovell, Michel,
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1956-....
4xx's: Alternate Name Forms (2)
Works
| Title | Sources |
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| Algorithms for the efficiency of unreliable multicore processors and their On-Chip interconnect. |
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| Analogue Network of Converters : a DfT Technique to Test a Complete Set of ADCs and DACs Embedded in a Complex SiP or SoC |
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| Analyse de l'impact du bruit de commutation sur les blocs digitaux des circuits intégrés CMOS |
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| Analyzing the impact of simultaneous switching noise on the behavior of digital CMOS integrated circuits. |
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| Architectures de réparation des mémoires pour des hautes densités des défauts |
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| Confident alternate test implementation. |
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| Contribution à la modélisation des fautes dans les circuits intégrés MOS |
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| Contribution to the Built-In Self-Test for RF VCOs |
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| Contributions aux processeurs multi-coeurs massivement parallèles en technologie en rupture : routage tolérant aux fautes de réseau d'interconnexion et auto-adaptabilité des applications |
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| Etude comparative des technologies nanométriques FinFET et FD-SOI au regard de la testabilité des défauts de fabrication. |
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| Etude de systèmes d'auto-adaptation pour les systèmes de Communication en Champ Proche dits NFC (Near Field Communication) |
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| Etude d'une instrumentation embarquée pour test de système électronqiue. |
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| Etude et modélisation électrique du court-circuit grille-canal dans le transistor MOS |
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| Field-programmable logic and applications : reconfigurable computing is going mainstream : 12th international conference, FPL 2002, Montpellier, France, September 2-4, 2002 : proceedings |
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| Indirect Analog / Accuracy & Robustness improvements. |
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| Memory repair architectures for high defect densities. |
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| Modelling and Simulation of the IR-Drop phenomenon in integrated circuits |
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| NFC antenna Self Calibration. |
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| Parametric defects modelling for static and dynamic tests. |
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| Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology. |
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| Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 15-17, 2009, Liberec, Czech Republic / editors: Michel Renovell [et al.]. - [Piscataway, N.J.], cop. 2009. |
|
| Proceedings, the first IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications, c2002: |
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| (The) scalable and reconfigurable DFT for embedded A/MS cores |
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| Self-adaptation applied to an intra-ocular pressure variation measurement device. |
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| Structural testing of complex hierarchical SRAM-based FPGA. |
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| Test et testabilité des FPGA hiérarchiques à base de cellules mémoires SRAM |
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| Test indirect des circuits analogiques et RF : implémentation sûre et efficace |
|
| Test orienté utilisateur des circuits configurables de type FGPA à base de SRAM |
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