Lewis, Dean, 1965-....
Lewis, Dean
Lewis, Dean, (Legal consultant)
Lewis, Dean, arbitrage
Lewis, Dean (Conseiller juridique)
Dean Lewis universitaire aquitain spécialiste en électronique
VIAF ID: 88146331970318692501 (Personal)
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Works
Title | Sources |
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Characterization and simulation of defects induced by a continuous wave laser during electrical failure analysis on the 28FDSOI technology. | |
Contribution à l'étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques | |
Contribution to the development and to the implementation of advanced fault localization techniques in integrated circuits in industrial environment. | |
Contribution to the study of photoelectric laser stimulation for new failure analysis methodologies development. | |
Defect localization in integrated circuits using photoelectric laser stimulation. | |
Development and application of dynamic laser stimulation techniques for the analysis and the diagnosis of intgrated circuits. | |
Development of magnetic microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits | |
Développement de méthodologies d'analyse des défaillances causées par les ESD dans les circuits intégrés VLSI à l'aide de la technique OBIC impulsionnelle et contribution à l'évaluation de la criticité des défauts latents | |
Dynamic light emission cartography (Time Resolved Imaging) applied to failure analysis of VLSI components. | |
Élaboration de nouvelles méthodologies d'évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques | |
Electromagnetic emissions analysis of integrated circuits. | |
Etude des effets singuliers transitoires dans les amplificateurs opérationnels linéaires par photogénération impulsionnelle non linéaire | |
Etude des mécanismes de défaillances et de transport dans les structures HEMTs AlGaN/GaN | |
Évaluation des effets des neutrons atmosphériques sur l'électronique embarqué en avionique et recherche de solutions de durcissement | |
The History of english paragraph | |
The interpretation and uniformity of the UNCITRAL Model Law on international commercial arbitration : focusing on Australia, Hong Kong and Singapore | |
Lewis' Practice of surgery | |
Localisation de défaut par la face arrière des circuits intégrés | |
L'Université de Bordeaux : des lieux, des objets, des savoirs : regards croisés sur des patrimoines à conserver | |
Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques | |
Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology. | |
Radiation test methods for nanosatellites. | |
Réalisation d'un banc optique d'imagerie thermique et thermoélastique pour composants électroniques en fonctionnement : application à l'étude de l'effet Peltier généré aux contacts ohmiques de circuits intégrés et la caractérisation du comportement thermique de diodes laser | |
Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below.. | |
Study of the atmospherical neutrons effect on electronic components embbeded for avionics application and search of hardening solutions. | |
Terahertz wave-guided reflectometry system |