Munteanu, Daniela.
Munteanu, Daniela, 19..-...., auteure en sciences et techniques
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Works
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| 2D dopant profile modelization and characterization usig TEM holography of ultra-thin SOI structures. |
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| Analysis of the impact of affirmative action for Roma in high schools, vocational schools and universities |
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| Caractérisation par holographie électronique et simulation du dopage 2D sur substrat SOI ultra-mince |
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| Circuits à empreinte énergétique quasi nulle permettant une extension des profils de mission et un fonctionnement continu des systèmes destinés à l'internet-des-objets. |
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| Developing radiation-hardening solutions for high-performance and low-power systems |
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| Développement de solutions robustes aux radiations pour les systèmes à haute performance et faible consommation. |
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| Etude et modélisation des phénomènes physiques émergents pour la simulation de dispositifs électroniques à base de nanofils de silicium |
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| Extension of socs mission capabilities by offering near-zero-power performances and enabling continuous functionality for Iot systems |
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| Fiabilité Porteurs Chauds (HCI) des transistors FDSOI 28nm High-K grille métal |
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| Gate-All-Around (GAA) devices in Silicon-On-Nothing (SON) technology : conception, caracterization and modelization for further integration in advanced CMOS nodes. |
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| HCI reliability of FDSOI HKMG transistors in sub-28nm technologies. |
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| Métrologie de l'environnement radiatif terrestre à l'aide de différents détecteurs solides |
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| Modélisation compacte des transistors à nanotube de carbone à contacts Schottky et application aux circuits numériques |
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| Modélisation et caractérisation des transistors SOI : du pseudo-MOSFET au MOSFET submicronique ultramince |
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| Multi-scale modeling of radiation effects for emerging space electronics : from transistors to chips in orbit |
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| SiO2, advanced dielectrics and related devices : proceedings of the 6th Franco-Italian Symposium on SiO2, advanced dielectrics and related devices : Mondello, Palermo, Italy, June 25-28, 2006 |
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| Soft errors, 2015, via WWW, Mar. 11, 2015: |
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| Soft errors : from particles to circuits |
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