Mir, Salvador
Mir, Salvador 1963-
VIAF ID: 26865374 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Advanced research for systems on chip revised selected papers | |
Alternative test technique for RF MEMS switches. | |
A BIST technique for Sigma-Delta ADCs. | |
Built-In Self-Test of Flexible RF Transmitters Using Nonuniform Undersampling | |
CAT platform for mixed-signal circuit testing. | |
Commutateurs RF à base de matériaux à changement d'état : conception, caractérisation et application | |
Conception and evaluation of a BIST (Built-In Self Test) technique for a RF (Radio Frequency) low noise amplifier. | |
Conception de transducteurs acoustiques micro-usinés | |
Conception des microsystèmes sur silicium | |
Conception d'un convertisseur Analogique-numérique à rampe par morceaux pour capteur d'image avec techniques de calibration | |
Conception d'un estimateur intégré en technologie CMOS de la densité spectrale de puissance pour l'auto-calibration des émetteurs radio impulsionnels ultra-large bande | |
Conception d'un imageur CMOS à colonne active pour un biocapteur optique SPR | |
Conception d'un micro capteur d'image CMOS à faible consommation d'énergie pour les réseaux de capteurs sans fil | |
Conception d'un microsystème d'aide au monitoring per-opératoire dans la chirurgie de l'oreille moyenne | |
Conception d'un récepteur à formation de faisceaux numérique pour petites cellules millimétriques 5G | |
Continuous-Time Bandpass (BP) sigma delta modulator (SDM). | |
Contribution to the design and evaluation of BIST circuits for integrated RF applications. | |
Cryogenic electronics for quantum engineering. | |
Design and Implementation of a CMOS imager with active column for SPR-based sensors. | |
Design of a CMOS image sensor with low energy consumption for wireless sensor networks. | |
Design of a programmable analog and mixed-signal BIST architecture in deep submicron technology. | |
Design of an analog-digital converter based on a piecewise linear ramp for image sensor with calibration techniques. | |
Design of an integrated CMOS power spectral density estimator for ultra wideband impulse radio transmitters self-calibration. | |
Design of embedded sinusoidal signal generators for mixed signal Built-in Self-Test. | |
Design of micromachined acoustic transducers. | |
Desing and modeling of a micro sensor used in the frame of middle ear surgery. | |
Développement de stratégies de test pour les systèmes de communications millimétriques | |
Digital IC Physical Defect Localization Improvement through Transistor Level Diagnosis. | |
Diseño e implementaciòn de un sensor de imagen CMOS de columna activa para biosensores basados en SPR. | |
Electronique cryogénique pour l'ingénierie quantique | |
Estimation des paramètres d'un système à partir de données fortement quantifiées, application aux MEMS. | |
Etude, conception et caractérisation de solutions d’auto-test intégrées pour des applications micro-ondes | |
Etude des phénomènes de décharge électrostatique de type modèle de composant chargé dans les circuits intégrés en partant du composant élémentaire jusqu'au boitier | |
Etude d'un système de conversion analogique-numérique rapide de grande résolution adapté aux nouvelles générations de capteurs d'images CMOS | |
Etude et intégration d'un circuit analogique, basse consommation et à faible surface d'empreinte, de neurone impulsionnel basé sur l'utilisation du BIMOS en technologie 28 nm FD-SOI | |
IFIP VLSI-SoC 2006 : IFIP WG 10.5 International Conference on Very Large Scale Integration & System-on-Chip : Nice, France, October 16-18, 2006 | |
Indirect Analog / Accuracy & Robustness improvements. | |
Industrial approach to quantum dots in fully-depleted silicon-on-insulator devices for quantum information applications. | |
Linéarisation des convertisseurs analogique-numérique pour l'amélioration des performances de dynamiques instantanées des numériseurs radioélectriques | |
Low-cost phase noise measurement with digital test resources. | |
Low-power adaptive architectures for wireless communications. | |
Mesure de bruit de phase faible coût à l'aide de ressources de test numériques | |
Méthode adaptative de contrôle logique et de test de circuits AMS/FR | |
Modélisation de fautes et diagnostic pour les circuits mixtes/RF nanométriques | |
Modélisation du bruit de phase et de la gigue d'une PLL, pour les liens séries haut débit | |
Non-intrusif built-in sensors for RF circuit testing. | |
Non traduit. | |
Optimisation des performances de réseaux de capteurs dynamiques par le contrôle de synchronisation dans les systèmes ultra large bande | |
Optimisation of the production test of analog and RF circuit using statistical modeling techniques. | |
Optimizing the performance of dynamic sensor networks by controlling the synchronization in ultra wide band systems. | |
Parameter estimation methods based on binary observations - Application to Micro-Electromechanical Systems (MEMS) | |
Performance monitoring and errors reconciliation in image decoders. | |
Plateforme CAO pour le test de circuits mixtes | |
PLL Phase Noise & Jitter Modeling, for High Speed Serial Links. | |
Pseudorandom built-in self-test for microsystems. | |
RF Switches Based on Phase Change Materials : Design, Characterisation and Applications. | |
Solutions alternatives pour améliorer le test de production des capteurs optiques en technologie CMOS | |
Statistical methods for the parametric yield estimation of analog/RF integratedcircuits. | |
Stratégies de test statique des ADC SAR à code réduit. | |
Study and integration of a low power and low footprint BIMOS-based analog spiking neuron circuit in 28 nm FD-SOI technology. | |
Study, design and characterization of integrated Built-In-Self-Test solutions for microwave applications. | |
Study of a high speed high resolution analog to digital conversion system adapted for new generations of CMOS image sensors.. | |
Study of ESD/CDM stresses phenomena from elementary charged devices to package discharge. | |
Technique d'auto test pour les imageurs CMOS | |
Technique de BIST pour synthétiseurs de fréquence RF | |
Techniques for the evaluation and the improvement of emergent technologies’ behavior facing random errors. | |
Techniques pour l'évaluation et l'amélioration du comportement des technologies émergentes face aux fautes aléatoires | |
Test and characterization methodologies for advanced technology nodes | |
Test embarqué des circuits RF en utilisant des capteurs non-intrusifs | |
Test indirect des circuits analogique et RF : contribution pour une meilleure précision et robustesse | |
Test intégré pseudo aléatoire pour les composants microsystèmes | |
VLSI-SoC, research trends in VLSI and systems on chip, c2008: |