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Deleruyelle, Damien, 1977-.... ISNI Sudoc [ABES], France

VIAF ID: 208986860 (Personal)

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Title Sources
Conception et procédés de fabrication avancés pour l'électronique ultra-basse consommation en technologie CMOS 80 nm avec mémoire non volatile embarquée Sudoc [ABES], France
Design and advanced manufacturing processes for ultra low-power electronic in CMOS 80 nm technology with embedded non-volatile memory. Sudoc [ABES], France
Electrical characterization and technological optimization of Conductive Bridge RAM CBRAM devices to improve performance, speed and reliability. Sudoc [ABES], France
Etude de la fiabilité de mémoires PCRAM : analyse et optimisation de la stabilité des états programmés Sudoc [ABES], France
Etude des mécanismes de commutation de résistance dans des dispositifs Métal (Ag) / Isolant (HfO2) / Métal, application aux mémoires résistives à pont conducteur (CBRAMs) Sudoc [ABES], France
Étude des mécanismes de vieillissement et impact sur les performances dans les mémoires Flash NOR 40nm Sudoc [ABES], France
Etude et optimisation de nouveaux types de capteurs pour la détection de polluants en milieu aquatique Sudoc [ABES], France
Implémentation de PCM (Process Compact Models) pour l'étude et l'amélioration de la variabilité des technologies CMOS FDSOI avancées Sudoc [ABES], France
Impression et recuits sélectifs d'encres métalliques sur papier – Optimisation des propriétés électriques de boucles RFID-HF en vue d'une production industrielle Sudoc [ABES], France
Intégration et caractérisation électrique d'éléments de mémorisation à commutation de résistance de type back-end à base d'oxydes métalliques. Sudoc [ABES], France
Investigation of degradation mechanisms and related performance concerns in 40nm NOR Flash memories. Sudoc [ABES], France
Investigation of HfO2-based resistive RAM cells by electrical characterization and atomistic simulations. Sudoc [ABES], France
Printing and selective sintering of metal based inks on paper – Optimization of electrical properties of RFID-HF loops for industrial production. Sudoc [ABES], France
Procédé de croissance et caractérisation avancée de nanocristaux de silicium pour une intégration dans les mémoires non-volatiles Sudoc [ABES], France
Reliability analysis of spintronic device based logic and memory circuits. Sudoc [ABES], France
Reliability study of PCRAM cells : analysis and optimization of the stability of programmed states. Sudoc [ABES], France
Resistance switching in transition metal oxides and its application to memory devices. Sudoc [ABES], France
Study and optimization of new types of sensors for the detection of pollutants in the aquatic environment. Sudoc [ABES], France
Study of MTJ devices (Multiple Tunnel Junctions) and intégration of high-K materials for high density integration flash memories. Sudoc [ABES], France

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