Bourrieau, Jacques
![Sudoc [ABES], France](/viaf/images/flags/SUDOC.png "Sudoc [ABES], France")
VIAF ID: 204705447 ( Personal )
Permalink: http://viaf.org/viaf/204705447
Preferred Forms
-
100 1 _
‡a
Bourrieau, Jacques
Works
| Title | Sources |
|---|---|
| Influence des conditions expérimentales sur la dégradation en dose cumulée d'inverseurs cmos |
|
| A model for proton-induced single event effects. |
|
| Modélisation des effets singuliers induits dans les composants électroniques par les protons rapides de l'environnement spatial |
|
| Réalisation et étude de compteurs geiger-muller remplis de mercure pur, utilisables jusqu'à 360°C |
|
