Gailliard, J. P., 19..-....
![Sudoc [ABES], France](/viaf/images/flags/SUDOC.png "Sudoc [ABES], France")
Gailliard, Jean Pierre.
VIAF ID: 190787054 ( Personal )
Permalink: http://viaf.org/viaf/190787054
Preferred Forms
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100 1 _
‡a
Gailliard, J. P.,
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19..-....
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100 1 _ ‡a Gailliard, Jean Pierre.
4xx's: Alternate Name Forms (1)
Works
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| Application de la mesure de mobilité en géométrie de Corbino à l'étude du recuit du bore implanté dans le silicium |
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| Effets de l'irradiation sur la diffusion des impuretés dans le silicium |
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| Étude de la modification des propriétés optiques induite par implantation ionique dans le LiNb03 : application à la réalisation de guides d'ondes |
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| Ion beam modification of materials : proceedings of the Third International Conference on Ion Beam Modification of Materials, Grenoble, France, September 6-10, 1982 |
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