Ducroquet, Frédérique
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Ducroquet, Frédérique
Works
| Title | Sources |
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| Caractérisation d'oxydes cristallins à haute permittivité (LaAIO3, SrTiO3) en vue d'une intégration en microélectronique = igh-K crystalline dielectric (LaAlO3, SrTiO3) characterization for integration in microelectronic applications |
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| Electrical characterization of the quaternary (Ga0,47In0,53As)1-x (Al0,48In0.52 As)x (x=30%) and its application to the HFET transistor for photo-detection at 13-1.55μm. . |
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| Etude de caractérisation de matériaux diélectriques de grille à forte permittivité pour les technologies CMOS ultimes = haracterisation of high permittivity gate dielectric materials for ultimate CMOS technology |
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| Etude des propriétés électroniques de couches minces de CZTSSe |
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| Etude, fabrication et propriétés de transport de transistors CMOS associant un diélectrique haute permittivité et un canal de conduction haute mobilité = Study, fabrication and transport properties of high mobility channel CMOS transistors with high-k gate dielectrics |
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| Influence des niveaux profonds et des phénomènes de surface sur les caractéristiques électriques de photodiodes GaInAs = Influence of deep levels and surface phenomena on the electrical properties of GaInAs photodiodes |
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| Study of electronic conduction mecanisms at low temperature for the measurement of the dopant content in photovoltaic silicon. |
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| Study of electronics properties of thin films CZTSSe. |
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