Ducroquet, Frédérique, 1964
VIAF ID: 188498256 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Caractérisation d'oxydes cristallins à haute permittivité (LaAIO3, SrTiO3) en vue d'une intégration en microélectronique = High-K crystalline dielectric (LaAlO3, SrTiO3) characterization for integration in microelectronic applications |
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Développement de matériaux absorbants de type Kesterite (Cu2ZnSnS4) pour application dans les cellules solaires. |
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Dossier de candidature présenté devant l'Institut National des Sciences Appliquées de Lyon et l'Université Claude Bernard Lyon 1 pour obtenir le Diplôme d'habilitation à diriger des recherches |
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Electrical characterization of the quaternary (Ga0,47In0,53As)1-x (Al0,48In0.52 As)x (x=30%) and its application to the HFET transistor for photo-detection at 13-1.55μm. . |
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Etude de caractérisation de matériaux diélectriques de grille à forte permittivité pour les technologies CMOS ultimes haracterisation of high permittivity gate dielectric materials for ultimate CMOS technology |
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Etude des propriétés électroniques de couches minces de CZTSSe |
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Etude, fabrication et propriétés de transport de transistors CMOS associant un diélectrique haute permittivité et un canal de conduction haute mobilité Study, fabrication and transport properties of high mobility channel CMOS transistors with high-k gate dielectrics |
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Influence des niveaux profonds et des phénomènes de surface sur les caractéristiques électriques de photodiodes GaInAs = fluence of deep levels and surface phenomena on the electrical properties of GaInAs photodiodes |
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Study of electronic conduction mecanisms at low temperature for the measurement of the dopant content in photovoltaic silicon. |
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Study of electronics properties of thin films CZTSSe. |
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