Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung
VIAF ID: 160442823 ( Corporate )
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- 510 2 _ ‡a Arbeitskreis Mikro- und Nanoprüftechnik ‡e Nachfolger
- 510 2 _ ‡a Arbeitskreis Mikro- und Nanoprüftechnik
- 510 2 _ ‡a Deutsche Gesellschaft für Materialkunde ‡e Ueberordnung
- 510 2 _ ‡a Deutsche Gesellschaft für Materialkunde
- 510 2 _ ‡a Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung ‡e Ueberordnung
- 510 2 _ ‡a Deutscher Verband für Materialprüfung ‡b Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung ‡e Vorgaenger
- 510 2 _ ‡a Deutscher Verband für Materialprüfung ‡e Ueberordnung
- 510 2 _ ‡a Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung
- 510 2 _ ‡a Deutscher Verband für Materialprüfung
- 510 2 _ ‡a Deutscher Verband für Materialprüfung ‡b Arbeitskreis Rastermikroskopie in der Materialprüfung
Works
Title | Sources |
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Fortschrittliche REM-Analyse in der Hochtechnologie, Werkstoff-Forschung, Schadensanalyse, Qualitätssicherung, 1988: |