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小倉, 敬二 NII (Japan)

VIAF ID: 112171501 (Personal)

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Title Sources
サーモビジョン顕微鏡による微小欠陥・損傷同定システムの開発 NII (Japan)
中高温下における巨視ならびに微小疲労き裂の伝播に関する研究 NII (Japan)
光ファイバーを用いた内視鏡型レーザスペックルひずみ/損傷計測システムの開発 NII (Japan)
球転がり疲労下におけるセラミックスの微小き裂進展挙動の観察と破壊力学による解明 NII (Japan)
計算機支持X線フラクトグラフィ法の開発と実機破面解析への適用 NII (Japan)
超音波顕微鏡による未臨界き裂の発生ならびに初期進展過程の連続観察 NII (Japan)

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