巨, 陽
VIAF ID: 119953631 (Personal)
Permalink: http://viaf.org/viaf/119953631
4xx's: Alternate Name Forms (9)
Works
| Title | Sources |
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| Frontiers of non-destructive testing |
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| テラヘルツ波トモグラフィー技術の開発と実装後電子パッケージ内はく離の非破壊評価 |
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| マイクロ波-レーザ計測技術の開発とシリコンウェーハの局所的導電率の非接触計測 |
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| マイクロ波原子間力顕微鏡の開発及びナノ領域における電気的特性の定量評価 |
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