Ruska, Ernst, 1906-1988
Ernst August Friedrich Ruska
Ruska, Ernst
רוסקה, ארנסט
VIAF ID: 40173810 ( Personal )
Permalink: http://viaf.org/viaf/40173810
Preferred Forms
- 100 0 _ ‡a Ernst August Friedrich Ruska
- 100 1 _ ‡a Ruska, Ernst
- 100 1 _ ‡a Ruska, Ernst
-
-
-
- 100 1 _ ‡a Ruska, Ernst ‡d 1906-1988
- 100 1 _ ‡a Ruska, Ernst ‡d 1906-1988
-
-
-
4xx's: Alternate Name Forms (58)
5xx's: Related Names (13)
- 551 _ _ ‡a Berlin ‡4 orts ‡4 https://d-nb.info/standards/elementset/gnd#placeOfDeath
- 551 _ _ ‡a Berlin ‡4 ortw ‡4 https://d-nb.info/standards/elementset/gnd#placeOfActivity
- 500 1 _ ‡a Borries, Bodo von
- 510 2 _ ‡a Freie Universität Berlin ‡b Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät ‡4 affi ‡4 https://d-nb.info/standards/elementset/gnd#affiliation ‡e Affiliation
- 551 _ _ ‡a Heidelberg ‡4 ortg ‡4 https://d-nb.info/standards/elementset/gnd#placeOfBirth
- 500 1 _ ‡a Mulvey, Thomas
- 500 1 _ ‡a Möllenstedt, Gottfried ‡d 1912-1997)
- 500 1 _ ‡a Müller, Heinz Otto ‡d 1911-1945
- 500 1 _ ‡a Niehrs, Heinz
- 500 1 _ ‡a Ruska, Helmut ‡d 1908-1973
- 500 1 _ ‡a Ruska, Helmut ‡d 1908-1973 ‡4 bezf ‡4 https://d-nb.info/standards/elementset/gnd#familialRelationship ‡e Beziehung familiaer
- 500 1 _ ‡a Ruska, Julius ‡d 1867-1949
- 500 1 _ ‡a Ruska, Julius ‡d 1867-1949 ‡4 bezf ‡4 https://d-nb.info/standards/elementset/gnd#familialRelationship ‡e Beziehung familiaer
Works
Title | Sources |
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early development of electron lenses and electron microscopy | |
Frühe entwicklung der elektronenlinsen und der elektronenmikroskopie | |
Hochleistungsoszillographen mit abgeschmolzener Braunscher Röhre | |
Physikalisch-Technischer Teil | |
Über die Beurteilung und den objektiven Vergleich der Meßleistung von Kathodenstrahloszillographen Siemens ; Messtechnik ; [SH. 7967] | |
Über ein magnetisches Objektiv für das Elektronenmikroskop | |
Übermikroskop für 220 kV Strahlspannung Mitteilg aus d. Laboratorium f. Elektronenoptik d. Siemens & Halske A.G. ; [M/0267] | |
Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie, Berlin 10.-17. September 1958 = Fourth International Conference on Electron Microscopy. |