Vu, Thien Binh, 1946-
Vu, Thien Binh
VIAF ID: 93515840 ( Personal )
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Preferred Forms
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- 100 1 _ ‡a Vu Thien, Binh, ‡d 1946-....
- 100 1 _ ‡a Vu, Thien Binh
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- 100 1 _ ‡a Vu, Thien Binh ‡d 1946-
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- 100 1 0 ‡a Vu, Thien Binh, ‡d 1946-
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4xx's: Alternate Name Forms (13)
Works
Title | Sources |
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Cold cathodes II, c2002: | |
Contribution à l'étude des propriétés dynamiques de la surface du silicium | |
Contribution to the study of the silicon surface by field emission microscopy. | |
Etude par microscopie à effet tunnel et diffraction d'électrons de la croissance de couches métalliques par épitaxie moléculaire | |
Évolution du profil d'un cristal sous l'action de l'évaporation et de la diffusion de surface | |
Evolutions morphologique de pointes de silicium par traitement thermique : résultats préliminaires | |
FRESNEL PROJECTION MICROSCOPE. DESIGN REALISATION FIRST RESULTS. | |
METALLIC NANOTIPS: STABILITY AND NOISE STUDY OF THE FIELD EMISSION CURRENT. | |
Nanopointes métalliques : étude de la stabilité et du bruit du courant à émission de champ | |
Nanosources and manipulation of atoms under high fields and temperatures : applications | |
NANOSOURCES ELECTRONIQUES ET MICROSCOPIE A PROJECTION DE FRESNEL | |
Scanning tunneling microscopy and rheed studies of ultrathin metallic film growth by molecular beam epitaxy. | |
Surface mobilities on solid materials : fundamental concepts and applications : [proceedings of a NATO Advanced Study Institute on Surface Mobilities on Solid Materials, held September 6-19, 1981, in Les Arcs (Alps) France] | |
Synthèse, caractérisation et étude des propriétés d'émission de champ de nanotubes de carbone | |
Utilisation de la microscopie ionique à effet de champ et de la microscopie électronique à balayage pour l'étude de la diffusion de surface sur une pointe de tungstène |