Polack, François
Polack, F.
Polack, F. (Francois)
VIAF ID: 66159939 ( Personal )
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Preferred Forms
- 200 _ | ‡a Polack ‡b François
- 100 1 _ ‡a Polack, F.
- 100 1 _ ‡a Polack, F. ‡q (Francois)
- 100 1 _ ‡a Polack, François
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Works
Title | Sources |
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The application of wavefront sensing methods to optical surface metrology. | |
CONCEPTION ET CARACTERISATION D'UNE OPTIQUE A FOCALISATION VARIABLE POUR RAYONNEMENT X : MIROIR BIMORPHE PIEZOELECTRIQUE | |
Design and analysis of a focusing variable optics for x-rays : piezoelectric bimorph mirror. | |
ETUDE ET OPTIMISATION DE MONOCHROMATEURS X-UV A HAUTE RESOLUTION POUR LE RAYONNEMENT SYNCHROTRON | |
Étude numérique et expérimentale de la diffraction en géométrie conique de réseaux optiques aux longueurs d'ondes X et UV | |
Imagerie nanométrique ultra-rapide par diffraction cohérente de rayonnement extrême-UV produit par génération d'harmoniques d'ordre élevé | |
L'analyse de front d'onde appliquée à la métrologie de surface optique | |
MICROSCOPIE X SANS LENTILLES METHODE DE CONTACT PAR CONVERSION D'IMAGE ET HOLOGRAPHIE X | |
Numerical and experimental study of diffraction by optical gratings in conical geometry at X-ray and UV wavelengths. | |
Ultrafast nanometers scale coherent diffractive imaging with extreme-UV light from high harmonics generation beamline. | |
X-Ray microscopy 2002 7th International conference on X-ray microscopy, ESRF, Grenoble, France, July 28 - August 2, 2002 |