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Llewellyn, Philip L., 19..-....
VIAF ID: 53157340699709921345 ( Unknown Name Type )
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Preferred Forms
Works
Title | Sources |
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Development of ellipsometry porosimetry for the characterization of nanoporous thin films applied to photovoltaics | |
Développement de l'ellipsométrie porosimétrie pour la caractérisation de couches minces nanoporeuses appliquées aux panneaux solaires. | |
Etudes des mécanismes de cristallisation en milieu supercritique : application à des principes actifs pharmaceutiques | |
Exploration des sources de variabilité dans les réseaux métallo-organiques par adsorption à haut débit et méthodes calorimétiques. | |
Exploring sources of variability in metal organic frameworks through high throughput adsorption and calorimetric methods | |
Expositions professionnelles aux nanomatériaux lors de la manipulation de poudres : relations entre les propriétés des poudres et les caractéristiques des aérosols émis | |
Interaction entre la texture, la structure et la réactivité dans des matériaux poreux de type MOFs. | |
Interplay between structure, texture, and reactivity in MOFs in the case of amorphous, defective, and composite materials | |
Investigation of crystallization mechanisms in a supercritical media. | |
Propriétés d'adsorption de différents substrats microporeux à la séparation de gaz modélisation, caractérisation et méthodologie de sélection | |
Workplace exposure to nanomaterials during powder handling : relationships between powder properties and airborne particle characteristics. |