Dilillo, Luigi, 19..-...., chercheur en informatique
VIAF ID: 434144782733589696523 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Advanced Test Methods for SRAMs. Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies | |
Analysis of single event radiation effects and fault mechanisms in SRAM, FRAM and NAND Flash : application to the MTCube nanosatellite project | |
Conception et optimisation d'une mémoire résistive (RRAM) embarquée basse consommation. | |
Design and optimization of low-power embedded resistive memory (RRAM) | |
Development of an analog processing chain dedicated to particles detection in harsh environment. | |
Développement de méthodes de tests pour la qualification de composants et de systèmes électroniques adaptés aux environnements de rayonnement des accélérateurs à haute énergie. | |
Effets singuliers des rayonnements cosmiques et atmosphériques sur les composants mémoires. | |
Etude de durcissement de la technologie 28 nm FDSOI aux très fortes doses de radiation ionisante. | |
Étude des effets induits par la radiation spatial et atmosphérique sur des mémoires électroniques | |
Etude et développement d'une chaine de traitement analogique du signal dédiée à la détection de particules en environnement sévère | |
Hardening study of 28nm FDSOI technology at very high doses of ionizing radiation | |
Monitoring of temperature effects on CMOS memories | |
Radiation reliability analysis of FPGA-based systems : testing methodologies and analytical approaches | |
SiC particles detector and conditioning electronics. | |
Single-event effects from space and atmospheric radiation in memory components | |
Soft Erreur dans les Mémoires : Nouvelles Méthodes et Pratiques pour les Tests Dynamiques et Statiques. | |
Soft Errors in Memory Devices : Novel Methods and Practices for Dynamic and Static Testing |