David, Jean-Pierre, ingénieur
David, Jean-Pierre 1957-....
VIAF ID: 39514914 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Caractérisation et modélisation de la dégradation sous irradations de cellules solaires trijonctions | |
Characterization and modelling of the degradation of irradiated multijunction solar cells. | |
Collection de charges induites par des particules lourdes dans les APS : influence des paramètres de conception | |
Dégradation des technologies bipolaires et bicmos par radiations ionisantes : implications en assurance qualité pour l'industrie spatiale | |
Étude des méthodes de prédiction de taux d'erreurs en orbite dans les mémoires : nouvelle approche empirique | |
Étude numérique et expérimentale des dommages permanents induits par une particule lourde dans les composants électroniques | |
Étude numérique et expérimentale des mécanismes de dégradation dans les structures de silice épaisses à faible débit de dose | |
Etude physique de la dégradation et modèles pour l'assurance durcissement des capteurs d'image en environnement spatial | |
A method to assess the low dose rate degradation of CMOS circuits. | |
Modèle de transport d'électrons à basse énergie (~10 eV- 2 keV) pour applications spatiales (OSMOSEE, GEANT4) | |
Modèle physique de prédiction des effets des événements singuliers destructifs dans les composants électroniques de puissance | |
Modélisation des effets de dose dans les circuits intégrés en environnement spatial | |
Physical study of degradation and models for hardness assurance of imaging sensors. | |
Prévision du comportement à long terme des circuits intégrés CMOS irradiés | |
Total ionizing dose effects of integrated circuits in space environment. |