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Dupont, Laurent, 19..-....
VIAF ID: 338145541830396600313 ( Unknown Name Type )
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Works
Title | Sources |
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Etude de l'impact de micro-cavités (voids) dans les attaches de puces des modules électroniques de puissance | |
Etude et modélisation des dégradations des composants de puissance grand gap soumis à des contraintes thermiques et électriques | |
Evaluation de la température des composants à semi-conducteurs de puissance au sein des convertisseurs d'énergie électrique : application aux onduleurs photovoltaïques pour accroitre leurs performances et leur disponibilité | |
Evaluation of Impact of Voids in Die Attach on Electro-thermal Behavior of Power Modules. | |
Mission Profile-Based Accelerated Ageing Tests of SiC MOSFET and Si IGBT Power Modules in DC/AC Photovoltaic Inverters | |
On-line junction temperature measurements in power electronics converters : application to photovoltaic inverters to increase their performance and availability. | |
Study and modeling of large gap power components degradations subjected to thermal and electrical constraints. | |
A Systematic Approach to Reliability Assessment of DC-DC Power Electronic Converters | |
Vieillissement accéléré de modules de puissance de type MOSFET SiC et IGBT Si basé sur l'analyse de profils de mission d'onduleurs photovoltaïques.. |