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Düsterhöft, Heinz 1938- ISNI German National Library

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Title Sources
Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie "SIMS" mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang German National Library
Emission positiver Sekundärionen aus Festkörperoberflächen beim Beschuss mit Primärionen mittlerer Energie German National Library
Experimentelle Baumechanik Mess- und Belastungstechnik ; Modell- und Originalversuche ; In-situ-Versuche German National Library
neues elektronisch-spektroskopisches Verfahren zur Untersuchung von Oxydkathodenproblemen in abgeschmolzenen Elektronenröhren German National Library

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