Pravossoudovitch, Serge, 1957-....
VIAF ID: 32083411 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies | |
Amélioration de la localisation de défauts dans les circuits digitaux par diagnostic au niveau transistor | |
Contribution à l'optimisation en puissance des circuits CMOS et application au test fonctionnel | |
Contribution au test des circuits intégrés MOS : génération automatique de vecteurs de test au niveau transistors interrupteurs | |
Design for Test of TSV Based 3D Stacked Integrated Circuits. | |
DIAGNOSIS AND SIMULATION OF DELAY FAULTS IN DIGITAL CIRCUITS. | |
Diagnosis of Electrical Failures in Logic Systems. | |
Diagnostic de pannes électriques dans les systèmes logiques | |
Digital IC Physical Defect Localization Improvement through Transistor Level Diagnosis. | |
Etude et réalisation d'un générateur automatique de vecteurs de test : impact des techniques d'intelligence artificielle sur le test de pannes réalistes | |
Etude et Réduction de la Consommation de Puissance Durant le Test de Circuits Digitaux. | |
Fault modeling and testing of flash memories. | |
Flot automatique de diagnostic SRAM intra-cell pour environnement industriel | |
A Hybrid Fault-Tolerant Architecture for Robustness Improvement of Digital Integrated Circuits and Systems. | |
Mixed-level automatic test pattern generation: fast realistic fault testing for complex c.m.o.s. Circuits. | |
Modélisation de fautes et test des mémoires flash | |
Signal Integrity - Aware Pattern Generation for Delay Testing. | |
Soft Erreur dans les Mémoires : Nouvelles Méthodes et Pratiques pour les Tests Dynamiques et Statiques. | |
Soft Errors in Memory Devices : Novel Methods and Practices for Dynamic and Static Testing | |
Study and Reduction of Power Consumption during Test of Digital Circuits | |
SYLAM, SYSTEME ADAPTATIF D'IMPLANTATION SYMBOLIQUE DE MASQUES DE CIRCUITS INTEGRES | |
Test and reliability of Magnetic RAM (MRAM) memories. | |
Test de pannes temporelles dans les circuits programmables de type FPGA-SRAM | |
Test et fiabilité des mémoires MRAM | |
Test et testabilité de structures numériques tolérantes aux fautes | |
Test faible consommation des circuits munis de chaînes de scan | |
Test intégré des circuits digitaux : analyse et génération de séquences aléatoires adjacentes | |
Test of Low-Power SRAM Memories. |