Laurent Simon researcher, ORCID id # 0000-0002-2627-1525
Bubendorff, Jean-Luc, 19..-....
VIAF ID: 311837496 (Personal)
Permalink: http://viaf.org/viaf/311837496
Preferred Forms
4xx's: Alternate Name Forms (1)
5xx's: Related Names (2)
- 511 2 _ ‡a Institut de Science des Matériaux de Mulhouse
- 511 2 _ ‡a Université de Haute-Alsace (1975-....)
Works
Title | Sources |
---|---|
Advanced Techniques and Applications on Scanning Probe Microscopy | |
Croissance et caractérisation des nanofils de silicium et de germanium obtenus par dépôt chimique en phase vapeur sous ultravide | |
Élaboration et caractérisation de couches minces nanocomposites cuivre/carbone : application à la dégradation de colorant en solution aqueuse | |
ELABORATION PAR VOIE ELECTROCHIMIQUE, PROPRIETES MAGNETIQUES ET CARACTERISATIONS TOPOGRAPHIQUES PAR MICROSCOPIE EN CHAMP PROCHE, DE FILMS MINCES DE NICKEL ET DE COBALT SUR UN SUBSTRAT D'OR ORIENTE (111) | |
Elaborations et caractérisations d'auto-assemblages dipolaires par microscopie à effet tunnel | |
Electrochemical growth of Co thin films on Si (111) and magnetic and topogro. | |
Energy transport and light propagation mechanisms in organic single crystals | |
Formation and scanning tunnrling microscopy characterisation of dipolar self-assembly. | |
Growth and caracterization of silicon and germanium nanowires obtained by ultra high vacuum chemical vapor deposition. | |
Implémentation et étude des transistors à effet de champ en quasi bidimensionels films minces. | |
Magnétoélectrodéposition des revêtements d'alliage zinc-manganèse. Caractérisations et propriétés. | |
Self-Interference of Exciton Emission in Organic Single Crystals Visualized by Energy-Momentum Spectroscopy | |
Traitement de couches minces et de dispositifs à base de a-Si : H par un plasma d'hydrogène : Etude in situ par ellipsométrie spectroscopique. |