Renault, Olivier, 19..-...., chercheur
Olivier Renault chercheur
VIAF ID: 288983486 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Caractérisation d’interfaces profondément enterrées par spectroscopie de photoélectrons à haute énergie (HAXPES). | |
Characterization of deeply buried interfaces by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy | |
Coupling of electron spectroscopies for high resolution elemental depth distribution profiles in complex architectures of functional materials | |
Electrical and chemical mapping of silicon pn junctions using energy-filtered X-ray photoelectron emission microscopy. | |
influence of the dielectric substrate on the electronic band structure in a monolayer of tmdc. | |
Optimization of physical chemistry of the Pt/Ru/PbZrTiO3 interface for future high capacitance density devices | |
Oxydes diélectriques en couches minces pour écrans de visualisation à plasma : synthèse sur de grandes surfaces par aérosol-CVD et étude des propriétés microstructurales et physiques | |
Spectroscopies électroniques couplées pour l'analyse haute résolution d'agencements complexes de matériaux fonctionnels. | |
Study of individual doped semiconductor wires by local surface analysis techniques. | |
Systèmes épitaxiés faiblement liés : le cas Ge/SrTiO3 | |
Thin films of dielectric oxides for flat panel plasma displays : large-area deposition through aerosol-cvd and study of the microstructural and physical properties. | |
Tunability of surface-addressable photonic devices based on graphene/dielectric hybrid structures. |