Aas, Einar J. 1943-
Aas, E.J.
Aas, E. J. (Einar J.)
Aas, Einar J.
Einar J. Aas
VIAF ID: 279574103 ( Personal )
Permalink: http://viaf.org/viaf/279574103
Preferred Forms
-
-
-
- 100 1 _ ‡a Aas, E. J. ‡q (Einar J.)
- 100 1 0 ‡a Aas, E. J. ‡q (Einar J.)
-
- 100 1 _ ‡a Aas, E.J.
-
-
-
- 100 0 _ ‡a Einar J. Aas
4xx's: Alternate Name Forms (10)
Works
Title | Sources |
---|---|
Datamaskin-assistert konstruksjon og test av elektronikk | |
Et liv med elektrisk strøm | |
Fra kuleramme til PC : datamaskinens historie og betydning | |
An investigation of numerical methods for hot carrier problems | |
Logic synthesis with the CDPD circuit technique | |
Multi-chip module partitioning with focus on minimal yield and wiring costs | |
A multiplier and squarer generator for high performance DSP applications | |
Om 5-årig sivilingeniørstudium, læringsmål og design av elektronikkdesign-prosjekter | |
Om boolske funksjoners kompleksitet - | |
Om naturvitenskap og teknologi - eller om vitenskap og kunst | |
On multilevel circuit partitioning | |
On the relationship between 2-level & multi-level testability | |
On the utilization of Java technology in embedded systems | |
"Oppholdstillatelse, jeg?" | |
Opptakskrav til ingeniørstudiene | |
Pacemakere har dunket i 50 år | |
Parsimonious self-test scheme for sequential circuits | |
Parsimonious test concept for embedded PLAs in a boundary scan environment | |
Partielt ordnete problemer : fra høynivå-syntese til gourmet-middag! | |
PBL in a design oriented education in electronics : between competition and collaboration | |
PLA testing in deterministic or probabilistic mode, and applications in self-test environments | |
Power consumption and performance of low-voltage BIT-serial adders | |
Probabilistic gate-level power estimation using a novel waveform set method | |
Professorens dilemma | |
Properties of a quality driven unclustering scheme for graph and hypergraph partitioning : a cost-value analysis study | |
Prøverørsbarn med tre foreldre | |
Quantifying design quality through design experiments | |
Rapport fra det årlige internasjonale "mesterskapet" i kretser og systemer : ISCAS'98 | |
Realisering av selvtest-struktur og testkontroll i henhold til test-standard IEEE.1149.1 | |
Realisering og test av digitale komponenter : kompendium | |
Reducing scan test data volume and time : a diagnosis friendly finite memory compactor | |
Refleksjoner etter en eksamen : i forkant av Kvalitetsreformen | |
Requirements, objectives and experiences of project based learning in electronic design | |
Ressurs, ikke plage | |
Rettledning for semesteroppgaven i fag 44050 Digitale elektroniske kretser | |
Sabbatsår : Dichtung und Wahrheit | |
Sammen om kunnskap | |
En samtale med Wally | |
Scan test response compaction combined with diagnosis capabilities | |
Selvtest av synkrone, endelige tilstandsmaskiner : moduler som skriver ut egen "sykemelding" | |
Selvtest av terminal-adapter basert på autonom stimulering | |
Shannons ekspansjonsteorem : i virkeligheten et teorem for splitt og hersk | |
Små, smarte ting - | |
Smelter sammen logisk og fysisk design | |
Søkerinteressen for IKT-fag ved NTNU i år | |
State transition graph analysis as a key to BIST fault coverage | |
Storage requirement estimation for optimized design of data intensive applications | |
Student design experiments : lessons learned in design and verification | |
Studentaktiv læring : hva innebærer det? | |
Studenter evaluerer medstudenters prestasjoner ved NTNU | |
Svakt om stråling | |
Synopsys har kjøpt finsk | |
The T-algorithm : an efficient way to combine BIST and ATPG | |
Tanker om og erfaringer med prosjektbasert læring i designprosjekter : hvordan utnytte studentenes egne ressurser? | |
Tanker ved et 100-jubileum | |
Teaching CAD for electronics at the Norwegian Institute of Technology : present status and future ideas | |
Technoport 2007 | |
TEGAS : et stykke norsk DAK-historie | |
En teoretisk analyse av den negative resistivitet i n-type gallium-arsenid | |
Test generation through logic programming | |
Testing av digital elektronikk | |
Testing - testing - 1-2-3 - | |
Testproblemet : det finnes tusen sykdommer, men bare en helse | |
Teststrategi for 500 MBit/s PCB system | |
Tid for test for tid - | |
Tilfeldighetenes spill : handler om risiko, statistikk, slump og kaos | |
Tjener gode penger på å løse Maxwells ligninger | |
To av de tre store som parhester innen design-gjenbruk og verifisering | |
De to kulturer ved NTNU : refleksjoner ved et årsskifte | |
To norske blant 20 vinnere i europamesterskapet i IT | |
Topological study of domain and layer propagation in a Gunn diode | |
Towards a unified model for test and design quality | |
Tradeoffs in self-test and external test of PLAs | |
Transistoren 60 år | |
Tre nye konkurrenter i 3G signalbehandling | |
Trender innen testmetodikk anno 2003 | |
Universitetsforskningen - på vei ut? | |
Utdanning ved NTNU : broen over kulturkløften? | |
Utforske designrommet med høynivå-syntese? | |
Vaksine mot X-pest : finnes det? | |
Validation of an accurate and simple delay model and its application to voltage scaling | |
Vant internasjonal konkurranse i elektronikkdesign | |
Verification and diagnosis of digital systems by ternary reasoning | |
Verifisering : den formelle vei? | |
Virtuelle komponenter distribueres nå fra NTNU over Internet | |
VLSI 83 : VLSI design of digital systems / ed. by F. Anceau, E. J. Aas. - Amsterdam, cop. 1983. | |
VLSI 83 : VLSI design of digital systems : proceedings of the IFIP TC 10/WG 10.5 International Conference on Very Large Scale Integration, Trondheim, Norway, 16-19 August 1983 |