Zimmer, Thomas, 1962-....
Zimmer, Thomas
VIAF ID: 224445792 ( Personal )
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- 100 1 _ ‡a Zimmer, Thomas ‡d 1962-
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Works
Title | Sources |
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Calibrage sur plaquette et caractérisation des dispositifs à ondes (sub)millimétriques. | |
Caractérisation des effets thermiques et des mécanismes de défaillance spécifiques aux transistors bipolaires submicroniques sur substrat InP dédiés aux transmissions optiques Ethernet à 112 Gb/s | |
Caractérisation et développement des modèles compacts pour des transistors en graphène pour des applications haute fréquence. | |
Contribution à la modélisation des transistors bipolaires à hétérojonction Si/SiGe en température | |
Contribution à la modélisation physique et électrique compacte du transistor à nanotube | |
Contribution à l'étude du transistor bipolaire hyperfréquence sur puce de silicium | |
Contribution on the characterization of sub THz components. | |
Contribution to the study of high speed bipolar transistor on silicon chip. | |
Development and study of vertical Si/SiGe heterojunction bipolar transistors on thin-film SOI substrates. | |
Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés | |
Dynamic light emission cartography (Time Resolved Imaging) applied to failure analysis of VLSI components. | |
Electro-thermal characterization, TCAD simulations and compact modeling of advanced SiGe HBTs at device and circuit level | |
Etude des propriétés électromécaniques de semi-conducteurs organiques | |
Etude et compréhension du comportement des transistors TBH SiGe au-delà du BVCEO : Définition d’une aire de sécurité (SOA) dans ce régime de fonctionnement. | |
Etude et modélisation des phénomènes physiques émergents pour la simulation de dispositifs électroniques à base de nanofils de silicium | |
Etude et simulation physique des effets parasites dans les HEMTs AlGaN/GaN | |
From lectures to lab, electronics of devices and circuits | |
Handling design issues related to reliability in MPSoC at functional level | |
Interactions électrothermiques du transistor au circuit pour des technologies demi-THz TBH SiGe∶C. | |
Investigation and Modeling of High Frequency Effects in SiGe HBTs | |
Investigations des effets non quasi-statiques dans le transistor bipolaire en vue de leur modélisation compacte. | |
Méthodologie pour la conception de systèmes numériques complexes avec l'objectif fiabilité : modélisation et simulation de la fiabilité au niveau d'abstraction fonctionnel. | |
Modélisation compacte multi-échelle de nano-transistors à base de Carbone. | |
Parasitic effects characterization in GaN HEMTs : development of 3ω measurement bench. | |
Performance prediction of a future silicon-germanium heterojunction bipolar transistor technology using a heterogeneous set of simulation tools and approaches | |
Prédiction de la performance d'une future technologie SiGe HBT à partir de plusieurs outils de simulation et approches. | |
Scalable compact modeling for Si/SiGe heterojuction bipolar transistor. | |
Sources THz non-linéaires pour la spectroscopie résolue en temps | |
Study and validation of a bipolar transistor model dedicated to high frequency applications. | |
Study of electromechanical properties of semiconductors. | |
Study of HBT operation beyond breakdown voltage : Definition of a Safe Operating Area in this operation regime including the aging laws | |
(Sub)-millimeter wave on-wafer calibration and device characterization | |
Systèmes de mesure intégré sub-millimétrique en bande G (140-220 GHz) en technologie BiCMOS 55 nm | |
TCAD based SiGe HBT advanced architecture exploration | |
Terahertz imaging and spectroscopy of biomedical tissues : application to breast cancer detection | |
Terahertz radiations for breast tumour recognition | |
Untersuchungen zum Wasserhaushalt von Weinbergsböden im Rheingau | |
Untersuchungen zur Retardierung von Kaliumchlorid und Opium alkaloiden mit Diffusionspellets |