Pouget, Vincent, 1974-....
VIAF ID: 220073902 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Analyse de défaillance des circuits intégrés par émission de lumière dynamique : développement et optimisation d'un système expérimental | |
Caractérisation électrique et électro-optique de transistor à base de nanotube de carbone en vue de leur modélisation compacte | |
Caractérisation sécuritaire des OxRRAM | |
Contribution à l'étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques | |
Contribution to the study of photoelectric laser stimulation for new failure analysis methodologies development. | |
Développement des techniques de Microscopie Magnétique pour la localisation des défauts dans les circuits tridimensionnels. | |
Développement et application d'une méthode d'analyse de défaillances fonctionnelles et contribution à l'amélioration de l'utilisation des techniques optiques statiques et dynamiques | |
Dynamic light emission cartography (Time Resolved Imaging) applied to failure analysis of VLSI components. | |
Élaboration de nouvelles méthodologies d'évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques | |
Etude de l' effet de l'énergie des ions lourds sur la sensibilité des composants électroniques | |
Etude des effets singuliers transitoires dans les amplificateurs opérationnels linéaires par photogénération impulsionnelle non linéaire | |
Évaluation de la sensibilité des FGPA SRAM-based face aux erreurs induites par les radiations naturelles | |
Évaluation des effets des neutrons atmosphériques sur l'électronique embarqué en avionique et recherche de solutions de durcissement | |
Evaluation d'injection de fautes Laser et conception de contre-mesures sur une architecture à faible consommation | |
Interaction laser-silicium et transport fibré pour le test de circuits intégrés par stimulation photoélectrique non-linéaire | |
Laser fault injection evaluation and countermeasures design for a low-power architecture. | |
Méthodes de caractérisation et analyse de la sensibilité aux effets des radiations de mémoires dynamiques basse consommation pour application spatiale | |
Méthodologie de localisation des défauts soft dans les circuits intégrés mixtes et analogiques par stimulation par faisceau laser : analyse de résultats des techniques dynamiques paramétriques | |
Méthodologie d'évaluation d'effets des radiations dans les systèmes numériques : du niveau composant au niveau système | |
Methodology development using X-rays and pulsed laser for the evaluation of radiation effects in advanced semiconductor components. | |
Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques | |
On the evaluation of the sensitivity of SRAM-Based FPGA to errors due to natural radiation environment. | |
Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology. | |
Radiation effects characterization methods and sensivity analysis of low power dynamic memories for space applications. | |
Secure characterization of OxRAM technology. | |
Simulation expérimentale par impulsions laser ultra-courtes des effets des radiations ionisantes sur les circuits intégrés | |
Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below.. | |
Study of the atmospherical neutrons effect on electronic components embbeded for avionics application and search of hardening solutions. | |
Study of the effect of heavy ion energy on the sensitivity of electronic devices. |