Lalande, Frédéric
VIAF ID: 214342013 ( Personal )
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- 100 1 _ ‡a Lalande, Frédéric
Works
Title | Sources |
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APPORT DE LA TOMODENSITOMETRIE HELICOIDALE EN CAS DE SUSPICION D'APPENDICITE AIGUE | |
Caractérisation et modélisation des mémoires Flash embarquées destinées aux applications faible consommation et à forte contrainte de fiabilité. | |
Characterization and modeling of embedded Flash memories for low power and high reliability applications. | |
Contribution to a model of EEPROM : calibration of the experimental taking into account thermal effects. | |
Dépôt, par pulvérisation cathodique R.F., de couches minces d'AsGa polycristallin. Influence du soufre sur la structure cristalline et sur les propriétés électriques | |
Etude de la fiabilité des mémoires non volatiles à grille flottante | |
Etude et modélisation des courants tunnels : application aux mémoires non volatiles | |
Génération de routage contraint en courant pour les applications analogiques forts courants | |
Machines à compter : numération : systèmes non décimaux | |
Métrologie des dimensions critiques : scatterométrie et développements avancés | |
Polycrystalline gaas thin film deposited by R.F. sputtering. Sulfur incorporation effects on crystallisation and electrical properties. | |
Reliability study of non volatile memories with a floating gate. |