Texier, Michaël, 1976-....
Texier, Michaël 1976-... physicien du solide
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Works
Title | Sources |
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Electron microscopy study of silicon at small scales : mechanical behavior and atomic structure of defects. | |
Etude par microscopie électronique du silicium aux petites échelles : comportement mécanique et structure atomique des défauts | |
Mesure de composition par imageries à résolution atomique appliquée aux super-réseaux GeTe/Sb2Te3 | |
Microstructures et mécanismes de déformation des alliages quasicristallins Al-Cu-Fe et Al-Pd-Mn déformés aux hautes et basses températures | |
Plasticité de micro-piliers de semiconducteurs : effet de taille et transition fragile-ductile | |
Redistribution atomique de contaminants métalliques aux interfaces des structures des technologies CMOS | |
Size effect on the brittle to ductile transition in silicon nano-pillars : a numerical simulation study. |