Azais, Florence, 19..-...., physicienne
VIAF ID: 212045141 ( Personal )
Permalink: http://viaf.org/viaf/212045141
Preferred Forms
Works
Title | Sources |
---|---|
Analyse de l'impact du bruit de commutation sur les blocs digitaux des circuits intégrés CMOS | |
Analyzing the impact of simultaneous switching noise on the behavior of digital CMOS integrated circuits. | |
Une approche digitale pour le test faible coût de circuits intégrés RF : application à un transceiver ZigBee | |
Architectures fonctionnelles de transmission sans fils adaptées aux milieux industriels fortement bruités | |
Behaviour of ESD protection diodes during very fast transient events of type ESD. | |
Comportement des diodes de protection lors d’événements transitoires rapides dus aux ESD : outils de caractérisation, physique du semi-conducteur et modélisation CMOS | |
Conception de circuits de protection contre les décharges électrostatiques en technologies silicium sur isolant | |
Conception of integrated ESD protection for circuit made on silicon on insulator technology. | |
Confident alternate test implementation. | |
Développement d'outils de diagnostic pour l'analyse des défaillances des circuits intégrés analogiques et mixtes | |
Diagnosis tool development for failure analysis of analog and mixed signal devices. | |
Functional wireless transmission architectures adapted to highly noisy industrial environments. | |
Indirect Analog / Accuracy & Robustness improvements. | |
Low-cost phase noise measurement with digital test resources. | |
Medical Imaging Quality Assessment Process and Tools for Knowledge-Based Decision Support. | |
Mesure de bruit de phase faible coût à l'aide de ressources de test numériques | |
Modélisation du bruit de phase et de la gigue d'une PLL, pour les liens séries haut débit | |
PLL Phase Noise & Jitter Modeling, for High Speed Serial Links. | |
Processus d'évaluation de la qualité de l'imagerie médicale et outils d'aide à la décision basée sur la connaissance | |
Stratégies de test statique des ADC SAR à code réduit. | |
Test indirect des circuits analogiques et RF : implémentation sûre et efficace |