Gamiz, Francisco
VIAF ID: 210286509 ( Personal )
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- 100 1 _ ‡a Gamiz, Francisco
Works
Title | Sources |
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Caractérisation électrique et fiabilité des transistors intégrant des dielectriques High-k et des grilles métalliques pour les technologies FDSOI sub-32nm | |
Caractérisation électrique et modélisation du transport dans matériaux et dispositifs SOI avancés | |
Characterization, modelling and simulation of decananometer SOI MOSFETs. | |
Characterization of TFETs made using a Low-Temperature process and innovative TFETs architectures for 3D integration. | |
Dispositifs de silicium-sur-isolant avec contacts métalliques pour détection de pH basée sur le potentiel hors-équilibre | |
Étude détaillée des dispositifs à modulation de bandes dans les technologies 14 nm et 28 nm FDSOI | |
Semiconductor-on-insulator materials for nanoelectronics applications | |
Silicon-on-insulator devices with metal contacts for pH sensing based on out-of-equilibrium body potential. |