Darracq, Frédéric 1974-...
VIAF ID: 208871157 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Caractérisation à l'aide d'un laser impulsionnel de la sensibilité des circuits intégrés aux effets singuliers : méthodologie de tri préliminaire des composants SRAM commerciaux | |
Contribution à l'étude de la fiabilité des technologies avancées en environnement radiatif atmosphérique et spatial par des méthodes optiques | |
Contribution to the study of photoelectric laser stimulation for new failure analysis methodologies development. | |
Développement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l'analyse de défaillance des circuits intégrés | |
Élaboration de nouvelles méthodologies d'évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques | |
Évaluation des effets des neutrons atmosphériques sur l'électronique embarqué en avionique et recherche de solutions de durcissement | |
Investigation into trapping mechanisms and impact on performances and reliability of GaN HEMTs through physical simulation and electro-optical characterization | |
Modèle physique de prédiction des effets des événements singuliers destructifs dans les composants électroniques de puissance | |
Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques | |
Pulsed laser technique for single event effects testing of integrated circuits : screening methodology for commercial devices. | |
Study of the atmospherical neutrons effect on electronic components embbeded for avionics application and search of hardening solutions. |