Oliviero, Erwan, 1976-....
Erwan Oliviero researcher ORCID ID = 0000-0002-7828-9137
VIAF ID: 208052463 ( Personal )
Permalink: http://viaf.org/viaf/208052463
Preferred Forms
4xx's: Alternate Name Forms (1)
Works
Title | Sources |
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Accumulation et évolution des dégâts dans du 4H-SiC implanté avec des ions xénon. | |
Damage accumulation and recovery in Xe implanted 4H-SiC | |
Étude des défauts bidimensionnels à base d'hélium dans le silicium - Application au transfert de films minces | |
Helium implantation induced defects in silicon based materials. |