Ruat, Marie, 1980-...., auteur(e) en micro- et nano-électronique
Ruat, Marie 1980-...
VIAF ID: 204923790 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Étude des mécanismes de viellissement [i.e. vieillissement] sous contrainte électrique des transistors bipolaires à hétérojonction Si/SiGeC issus de technologies BiCMOS avancées | |
Monitorage en ligne de la radiothérapie par rayonnement synchrotron à l'aide de détecteurs diamant | |
Online monitoring for synchrotron radiation therapy with diamond detectors. | |
Study of advanced Si/SiGeC heterojunction bipolar transistors aging mechanisms under reliability stress. |