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Bourrieau, Jacques Sudoc [ABES], France

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Title Sources
Influence des conditions expérimentales sur la dégradation en dose cumulée d'inverseurs cmos Sudoc [ABES], France
A model for proton-induced single event effects. Sudoc [ABES], France
Modélisation des effets singuliers induits dans les composants électroniques par les protons rapides de l'environnement spatial Sudoc [ABES], France
Réalisation et étude de compteurs geiger-muller remplis de mercure pur, utilisables jusqu'à 360°C Sudoc [ABES], France

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