Bourrieau, Jacques
VIAF ID: 204705447 ( Personal )
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- 100 1 _ ‡a Bourrieau, Jacques
Works
Title | Sources |
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Influence des conditions expérimentales sur la dégradation en dose cumulée d'inverseurs cmos | |
A model for proton-induced single event effects. | |
Modélisation des effets singuliers induits dans les composants électroniques par les protons rapides de l'environnement spatial | |
Réalisation et étude de compteurs geiger-muller remplis de mercure pur, utilisables jusqu'à 360°C |