Vurpillot, François, 1974-...., enseignant-chercheur en science des matériaux
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Francois Vurpillot researcher
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Groupe de physique des matériaux (Saint-Etienne-du-Rouvray, Seine-Maritime)
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Université de Rouen Normandie (1966-....)
Works
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| 3D reconstruction of atom probe tomography images : morphology evolution and associated biases. |
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| Analyse tensorielle de circuits imprimés multicouches : Applications numériques et ébauche d'analyse multiphysique. |
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| Atom Probe-Based Correlative Multi-Microscopy for the Study of Low-Dimensional Semiconductors |
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| Clustering and Local Magnification Effects in Atom Probe Tomography: A Statistical Approach |
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| Étude de la fonction de transfert pointe-image de la sonde atomique tomographique |
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| Etude des semiconducteurs à basse dimensionnalité par sonde atomique, photoluminescence et microscopie électronique. |
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| Evaporation par effet de champ contrôlée précisément par effet électro-optique : application au développement de la sonde du futur |
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| High voltage pulse generation and study of its impact on field evaporation in Atom Probe Tomography. |
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| Interpreting nanovoids in atom probe tomography data for accurate local compositional measurements |
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| New method of 3D imaging and quantitative analysis of point defects and clusters defects for the study of aging of materials.. |
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| Nouvelle génération de détecteurs d'ions sensible en position et en temps pour le développement de la sonde atomique tomographique |
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| Nouvelle méthode d'imagerie 3D et d'analyse quantitative des défauts ponctuels et amas de défauts pour l'étude du vieillissement des matériaux. |
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| Optimization of atom probe tomography with improved mass resolution using electro-optic effect. |
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| Réalisation et caractérisation de dispositifs de mesure associés à la détermination de la constante de von Klitzing à partir d'un condensateur calculable étalon dit de Thompson-Lampard |
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| Simulatiοn en DFΤB d'agrégats chargés à l'aide de charges οbtenue par méthοde de machine-learning |
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| Study of the tip to screen transfert function of the tomographic atom probe. |
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| Tensorial analysis of multilayer printed circuit boards : computations and basics for multiphysics analysis |
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