David, Marie-Laure, 1977-...., physicienne
![Sudoc [ABES], France](/viaf/images/flags/SUDOC.png "Sudoc [ABES], France")
VIAF ID: 190604698 (Personal)
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Works
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| Défauts induits par implantation d'ions légers ou irradiation électronique dans les semi-conducteurs à base silicium |
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| Electron spectro-microscopy study of damage free and Heimplanted ODS steels. |
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| Étude de l'accumulation de l'hélium aux interfaces oxyde-fer dans des matériaux pour les réacteurs de fusion nucléaire. |
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| Etude de l'impact du procédé Smart Cut TM sur la qualité cristalline des couches minces de silicium transférées |
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| Étude par simulations numériques des propriétés physiques et des premiers stades de formation des bulles d'hélium dans le silicium |
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| Etude par spectro-microscopie électronique d'aciers ODS non irradiés et implantés par hélium |
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| Influence of surface preparation on physical properties of Co based contacts on n-Ge. |
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| lmpact du mécanisme de fracture sur la morphologie de surface des substrats SOI réalisés par la technologie Smart Cut |
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| Metal tritide aging characterizations and modeling : application to palladium tritide. |
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| Modélisation de l'évolution de la microstructure induite par des gaz dans l'acier ODS-EUROFER par implantation ionique à haute dose d'hélium et d'hydrogène. |
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| Numerical simulations studies of the physical properties and the first steps of formation of helium bubbles in silicon. |
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| Study of helium accumulation at oxide-iron interfaces in fusion-based materials |
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| Study of the impact of Smart Cut™ process on crystal quality of thin transferred silicon layers. |
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| Study of the Smart-Cut on cavities process for the direct realization of suspended micro-membranes with the aim of applications MEMS |
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