Clement, Laurent, 1977-...., auteur(e) en physique
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Works
Title | Sources |
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Développement d'une technique de caractérisation pour la mesure de déformation et de composition chimique à l'échelle nanométrique appliquée aux dispositifs avancés de la microélectronique | |
Mesure des déformations et des contraintes par diffraction électronique en faisceau convergent (cbed) | |
Microtexture characterization by Automated Crystal Orientation Mapping in TEM for the development of advanced technologies in microelectronics. | |
Strain and stress field measurement by convergent beam electron diffraction (CBED). |