Boulle, Alexandre
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Alexandre Boulle chercheur français
VIAF ID: 173260747 (Personal)
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Alexandre Boulle
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Boulle, Alexandre
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Works
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| Accumulation et évolution des dégâts dans du 4H-SiC implanté avec des ions xénon. |
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| Advanced X-ray characterization for the development of low consumption power transistors. |
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| Caractérisation avancée par rayons X pour le développement de transistors de puissance basse consommation |
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| Combinant RBS/C, diffraction des rayons X et modélisations à l'échelle atomique pour étudier des défauts induits par l'irradiation et des changements microstructuraux. |
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| Cristallogenèse de carbure de silicium cubique (SiC-3C) en phase gazeuse |
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| Crystal growth of cubic silicon carbide (3C-SiC) from gaseous phase. |
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| Damage accumulation and recovery in Xe implanted 4H-SiC |
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| Défauts et déformations au sein de couches d'oxydes épitaxiées : étude par diffraction des rayons X en haute-résolution |
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| Defects and deformations in epitaxial oxide films : a high-resolution X-ray diffraction study. |
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| Elaboration et corrélation structure/ propriétés optiques et électriques de matériaux oxydes à transition de phase (VO2, VO2 dopé avec W et NbO2). |
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| Elaboration par voie sol-gel et étude microstructurale de gels et de couches minces de SnO2 |
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| Etude de la microstructure et des transitions de phases électroniques et cristallines de couches épitaxiales de VO₂ déposées sur différents substrats |
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| Etude de la transition 3C-6H au sein de monocristaux de 3C-SiC : approche par diffusion diffuse des rayons X |
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| Évolution microstructurale et transition de phase induites par faisceaux d'ions dans des couches minces épitaxiées d'oxydes de terres rares |
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| In silico approach to model and characterize radiation-induced microstructural changes in materials - Fe and Ni as test cases |
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| Microstructural characterisation by X-ray scattering of perovskite-type La0.8Sr0.2MnO3±δ thin films prepared by a dip-coating process |
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| Microstructural evolution and phase transition induced by ion beams in epitaxial thin layers of rare earth oxides. |
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| Modifications of LiTaO3 structural and chemical properties by H+ ion implantation and their influence on Smart Cut process products. |
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| Oxide thin films elaborated by sol-gel route, epitaxied and nanostructured by post-deposition thermal treatments. |
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| Periodic multi-scale structuring of surfaces by self-assembly of colloidal masks : shape-size coupling effects |
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| Photonique sur silicium à base de nanostructures III-V épitaxiées sur silicium. |
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| Polarization Rotation in Ferroelectric Tricolor PbTiO3/SrTiO3/PbZr0.2Ti0.8O3 Superlattices |
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| Recent advances in the structural characterization of materials, 2014: |
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| Self-organized ultrathin FePt nanowires produced by glancing-angle ion-beam codeposition on rippled alumina surfaces |
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| Sillicon photonics based on monolithic integration of III-V nanostructures on silicon |
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| Statistical Nature of Atomic Disorder in Irradiated Crystals |
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| Strain and defects in irradiated materials : a study using X-ray diffraction and diffuse scattering |
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| Structuration périodique multi-échelle de surface par auto assemblage de masques colloïdaux : couplage forme-taille-propriétés, applications électroniques et optiques. |
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| Study of the 3C-6H transition in 3C-SiC single crystals : Approach using diffuse X-ray scattering. |
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| Synthesis, structural and physical characterizations of phase transition thin films for micro and nanoelectronic applications.. |
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| X-ray diffraction from oxide epitaxial layers : Elaboration and microstructural analysis. |
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