Jabłoński, Ryszard
Jabłoński, Ryszard (1942- ).
Jabłoński, Ryszard (fizyk)
Jabłoński, Ryszard (elektronika).
VIAF ID: 15108821 ( Personal )
Permalink: http://viaf.org/viaf/15108821
Preferred Forms
- 100 1 _ ‡a Jabloński, Ryszard
- 100 1 _ ‡a Jabloński, Ryszard
- 200 _ | ‡a Jabłoński ‡b Ryszard
- 100 1 _ ‡a Jabłoński, Ryszard
-
-
- 100 1 0 ‡a Jabłoński, Ryszard
-
-
-
-
4xx's: Alternate Name Forms (8)
5xx's: Related Names (4)
- 510 2 _ ‡a Instytut Technologii Elektronowej
- 510 2 _ ‡a Politechnika Warszawska
- 510 2 _ ‡a Politechnika Warszawska ‡e Affiliation
- 510 2 _ ‡a Polska Akademia Nauk. Instytut Technologii Elektronowej (Warszawa)
Works
Title | Sources |
---|---|
Analiza błędów spowodowanych aparaturą spektrometru EPR przy badaniu wąskich linii absorpcji | |
Angle measurements, 1991: | |
Apoptoza w błonie śluzowej żoładka u dzieci zakażonych Helicobacter pylori : możliwe mechanizmy patogenetyczne | |
Badania optyczne i EPR domieszkowanych kryształów CdF2 | |
Controlling of the charge states in laser crystals | |
A different Wajda? | |
Elektronowy rezonans paramagnetyczny Mn²+ w CdF₂ | |
Growth and characterization of lithium tantalate single crystals doped with Ho, Tm, Nd, Yb, Pr and doped by diffusion with Cr and Cu | |
Influence of ι-radiation on Dy³+ doped LiNbO3 single crystals | |
Laserowe skanery pomiarowe | |
Prefabrykacja ceramiczno-betonowa w Polsce | |
Przyrządy do pomiaru średnicy cienkich elementów | |
Radiation and structural defects in YVO4: Nd laser crystals | |
Recent advances in mechatronics | |
Recent Global Research and Education: Technological Challenges : Proceedings of the 15th International Conference on Global Research and Education Inter-Academia 2016 | |
Spektrometr EPR na pasmo X | |
Stabilizacja i regulacja natężenia pola magnetycznego w spektrometrze EPR | |
Ustalanie czasów napraw metalowych elementów zewnętrznych i wewnętrznych nadwozi, kabin i ram pojazdów | |
Wpływ warunków zewnętrznych na dokładność pomiaru | |
Wytyczne ustalania wartości pojazdów nieuszkodzonych dla rynku polskiego w.5.0 | |
Zabezpieczanie obiektów budowlanych przed zawilgacaniem a skuteczność osuszania metodami iniekcyjnymi | |
Zasady kalkulacji pracochłonności prac blacharskich. | |
Zastosowanie lasera do pomiarów interferencyjnych długości i kąta : IV Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Postępy w teorii i technice obróbki materiałów | |
Zbiór zadań z podstaw elektrotechniki. |