Fiegna, Claudio, 19..-....
VIAF ID: 132150565566806250790 ( Personal )
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Preferred Forms
Works
Title | Sources |
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Carrier injection and degradation mechanisms in advanced NOR Flash memories | |
Electrical conduction in high-k-based gate stacks of advanced CMOS technology. | |
Étude de la conduction électrique dans les diélectriques à forte permittivité utilisés en microélectronique | |
Etude des transistors MOS silicium-sur-isolant à grilles multiples tenant en compte de l'ingénierie de la bande interdite et des effets d'auto-échauffement | |
Investigation des mécanismes d'injection des porteurs chauds, de tunneling et de dégradation pour les diélectriques dans les technologies avancées CMOS et mémoires non-volatiles. | |
Study of silicon-on-insulator multiple-gate MOS structures including band-gap engineering and self heating effects. | |
Ulis 2005 : papers selected from the 6th International conference on the ultimate integration of silicon, held in Bologna, Italy, in April 2005 |