Paccagnella, Alessandro, 1958-....
VIAF ID: 116148120968894792316 ( Personal )
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Works
Title | Sources |
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Analysis of single event radiation effects and fault mechanisms in SRAM, FRAM and NAND Flash : application to the MTCube nanosatellite project | |
Développement de méthodes de tests pour la qualification de composants et de systèmes électroniques adaptés aux environnements de rayonnement des accélérateurs à haute énergie. |